功能材料測(cè)試儀器_第(8)頁-北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

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功能材料測(cè)試儀器

阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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HCAM系列電學(xué)檢測(cè)的高壓放大器專用極化裝置

更新時(shí)間：2024-07-19

型號(hào)：HCAM系列

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電學(xué)檢測(cè)的高壓放大器專用儀器適合材料電學(xué)檢測(cè)的高壓放大器是一種高、高可靠性、高的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料檢測(cè)。電學(xué)檢測(cè)的高壓放大器專用極化裝置
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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試

更新時(shí)間：2024-05-31

型號(hào)：

瀏覽量：1392

功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量的接口。無論在軟件與硬件方面，使本套儀器在未來易于擴(kuò)展。節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本。
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HPZT-800高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀適用壓電陶瓷高分子

更新時(shí)間：2024-10-22

型號(hào)：HPZT-800

瀏覽量：1561

高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀適用壓電陶瓷高分子，可測(cè)量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù),它是一款功能壓電材料測(cè)試裝置。
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鐵電儀國(guó)產(chǎn)可定制

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：

瀏覽量：1943

鐵電參數(shù)分析儀內(nèi)置完整的工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括工控計(jì)算機(jī)主板、CPU（i3或以上）、RAM（8G或以上）、固態(tài)硬盤（250G或以上）、網(wǎng)卡、USB接口、VGA接口、預(yù)裝Windows7操作系統(tǒng)、功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試軟件等。鐵電儀國(guó)產(chǎn)可定制
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居里溫度測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-12-14

型號(hào)：

瀏覽量：1857

居里溫度測(cè)試儀器運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。重復(fù)性與穩(wěn)定性好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的精確度，同時(shí)抗擾能力強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。
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熱釋電測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-08-29

型號(hào)：

瀏覽量：1885

熱釋電測(cè)試儀基于熱釋電動(dòng)態(tài)電流法設(shè)計(jì),由溫度控制器、加熱爐體、微電流放大器、溫度測(cè)試儀以及計(jì)算機(jī)軟件系統(tǒng)組成。溫度控制器控制加熱爐體內(nèi)部溫度;樣品的電流信號(hào)通過微電流放大器、輸入到計(jì)算機(jī);而溫度信號(hào)則直接通過溫度測(cè)試儀傳送到計(jì)算機(jī)。能測(cè)量具有熱釋電的單晶、陶瓷、厚膜及薄膜材料樣品, 適用范圍廣。
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HCAM-高壓放大器/壓電驅(qū)動(dòng) 高壓功放

更新時(shí)間：2024-09-05

型號(hào)：

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HCAM-高壓放大器/壓電驅(qū)動(dòng) 高壓功放，應(yīng)用：加速器、壓電陶瓷、壓電薄膜化、離子注入、電容充電、電子束、離子駐入等。
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HPZT-200華測(cè)壓電系數(shù)測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號(hào)：HPZT-200

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華測(cè)壓電系數(shù)測(cè)試儀采用利用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器，以實(shí)現(xiàn)振動(dòng)頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度。
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