簡單介紹下電壓擊穿試驗儀的測試過程有哪些
更新時間:2022-04-20 點擊次數(shù):1296
一、介質(zhì)在電場中的破壞
1.介質(zhì)的擊穿:當(dāng)電場強度超過某一臨界值時,介質(zhì)由介電狀態(tài)變?yōu)閷?dǎo)電狀態(tài)。這種現(xiàn)象稱介電強度的破壞,或叫介質(zhì)的擊穿。
2.擊穿電場強度:介質(zhì)的擊穿時,相應(yīng)的臨界電場強度稱為介電強度,或稱為擊穿電場強度。
3.擊穿類型:熱擊穿,電擊穿,局部放電擊穿。
二、固體電介質(zhì)的擊穿
(一)固體電介質(zhì)的熱擊穿
1.熱擊穿電介質(zhì)在電場作用下,由于漏導(dǎo)電流、損耗或氣隙局部放電產(chǎn)生熱量,逐漸升溫,積熱增多,達到一定溫度,即行開裂、玻化或熔化,導(dǎo)致絕緣材料破壞的現(xiàn)象。
2.熱擊穿的本質(zhì)熱擊穿的本質(zhì)是處于電場中的介質(zhì),由于其中的介質(zhì)損耗而受熱,當(dāng)外加電壓足夠高時,可能從散熱與發(fā)熱的熱平衡狀態(tài)轉(zhuǎn)入不平衡狀態(tài),若發(fā)出的熱量比散去的多,介質(zhì)溫度將愈來愈高,直至出現(xiàn)損壞,這就是熱擊穿。
(二)固體介質(zhì)的電擊穿
1.電擊穿在電場作用下,電介質(zhì)內(nèi)少量自由電子的動能加大,當(dāng)電壓足夠大時,在電子沖擊下激發(fā)出自由電子參加運動,并產(chǎn)生負(fù)離子,介電功能遭受破壞,而被擊穿。這種擊穿發(fā)展速度很快,約在10-8-10-7秒內(nèi)驟然擊穿,似同雪崩。
2.電擊穿的過程在強電場下,固體導(dǎo)帶中可能因冷發(fā)射或熱發(fā)射存在一些電子。這些電子一方面在外電場作用下被加速,獲得動能;另一方面與晶格振動相互作用,把電場能量傳遞給晶格。當(dāng)這兩個過程在一定的溫度和場強下平衡時,固體介質(zhì)有穩(wěn)定的電導(dǎo);當(dāng)電子從電場中得到的能量大于傳遞給晶格振動的能量時,電子的動能就越來越大,至電子能量大到一定值時,電子與晶格振動的相互作用導(dǎo)致電離產(chǎn)生新電子,使自由電子數(shù)迅速增加,電導(dǎo)進入不穩(wěn)定階段,擊穿發(fā)生。